中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì )
China Electronic Components Association
由中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì )主辦的“2025年中國陶瓷電容器及材料技術(shù)產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇暨中國MLCC行業(yè)年會(huì )”將于2025年4月24-25日在江蘇省蘇州市召開(kāi)。同期，還將舉辦配套展覽。
屆時(shí)，復納科學(xué)儀器（上海）有限公司將展示飛納臺式掃描電鏡、高分辨臺式顯微CT、離子研磨儀等設備，展位號：40號，誠摯邀請各位業(yè)界朋友蒞臨參觀(guān)。
復納科學(xué)儀器（上海）有限公司
復納科學(xué)儀器（上海）有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)“復納科技”）于2012年在上海成立，聚焦荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場(chǎng)的推廣和應用，涵蓋領(lǐng)域包括材料、鋰電新能源、半導體、生命科學(xué)和法醫檢測等。
截止目前，復納科技服務(wù)超過(guò)2000家飛納電鏡客戶(hù)和100家相關(guān)產(chǎn)品客戶(hù)，包括：清華大學(xué)、北京大學(xué)、復旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、華南理工大學(xué)和中科院系統等高?？蒲袉挝?；巴斯夫、寧德時(shí)代、微軟、默克、部分公安系統和出入境檢驗局等企事業(yè)單位。
2017年開(kāi)始，復納科技陸續與 7 家行業(yè)領(lǐng)先品牌建立了長(cháng)期獨家合作，致力于為中國高校、研究所、企業(yè)和政府用戶(hù)提供先進(jìn)可靠、高效智能的科學(xué)分析儀器、優(yōu)質(zhì)專(zhuān)業(yè)的服務(wù)和基于核心技術(shù)的解決方案。十年以來(lái)，復納科技賦能中國科研創(chuàng )新、工業(yè)升級，人工智能檢測的使命也越來(lái)越清晰。復納科技追求與客戶(hù)、制造商和員工長(cháng)期可持續的合作。公開(kāi)、透明的溝通方式，雙贏(yíng)的思維，聚焦每一位客戶(hù)和制造商的業(yè)務(wù)需求并解決他們的問(wèn)題是長(cháng)期合作的關(guān)鍵；真誠地關(guān)注每一位員工的職業(yè)發(fā)展，尋找組織發(fā)展和個(gè)人成長(cháng)的交匯點(diǎn)是穩定增長(cháng)的基石。十年以來(lái)，復納科技團隊累積經(jīng)驗，持續學(xué)習成長(cháng)，業(yè)務(wù)流程不斷完善，營(yíng)銷(xiāo)和客戶(hù)服務(wù)體系也越來(lái)越專(zhuān)業(yè)、高效。
-- Phenom飛納臺式掃描電鏡 --
荷蘭飛納作為全球領(lǐng)先的桌面掃描電子顯微鏡，引領(lǐng)掃描電鏡進(jìn)入 AI 智能時(shí)代。掃描電鏡，不止是一臺電鏡！飛納臺式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，分辨率優(yōu)于 1nm，分辨率最高的臺式電鏡。同時(shí)做到了電鏡能譜一體化設計，并且不受震動(dòng)、磁場(chǎng)等環(huán)境因素干擾。Phenom Pharos 為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。
-- Technoorg Linda離子研磨儀 --
Technoorg Linda 系列離子研磨儀、離子減薄儀和離子精修儀，是 SEM / TEM / XTEM / FIB 樣品制備的有力工具。該系列產(chǎn)品采用離子束技術(shù)，可對樣品進(jìn)行快速研磨、表面精細加工以及最終拋光等。離子研磨系統是一種高精度的表面處理技術(shù)，主要用于材料科學(xué)和半導體行業(yè)。目前絕大多數離子研磨系統都是采用傳統的觸控屏或機械鍵盤(pán)的方式進(jìn)行操作。而最新的 Technoorg Linda 產(chǎn)品 SEMPREP SMART 創(chuàng )新地采用了智能 AI 的操作模式，是一臺可以對話(huà)的離子研磨系統！
-- NEOSCAN臺式顯微CT --
分辨率最高的臺式顯微CT！NEOSCAN 臺式顯微 CT 掃描系統對場(chǎng)地要求少、免維護、具備高空間分辨率。能夠真實(shí)再現材料內部結構，在材料研究、失效分析、工藝優(yōu)化中已經(jīng)成為不可替代的測試手段。
NEOSCAN N90 重磅發(fā)布，全球首款臺式納米 CT 系統！最小體素尺寸可達 40nm，可選配 XRF 系統，化學(xué)成分分析觸手可及！
應用案例：MLCC 失效分析 —— 介質(zhì)層孔洞
陶瓷介質(zhì)內的孔洞是因為介質(zhì)層內部含有水汽或其它雜質(zhì)離子，在電路中正常施加工作電壓時(shí)，因為雜質(zhì)和水汽的存在，降低了此位置的電壓耐受程度，所以施加正常電壓時(shí)，此位置就可能會(huì )發(fā)生過(guò)電擊穿的現象。
離子研磨拋光前無(wú)法確定 MLCC 燒結實(shí)際狀況（孔隙，空洞，氧化物位置等）
離子研磨拋光后，使用飛納電鏡觀(guān)察，可以確定孔隙，空洞
結合飛納電鏡能譜結果發(fā)現 MLCC 內電極存在被氧化現象
報到、布展時(shí)間：2025年4月24日
報到地點(diǎn)：蘇州南大國際學(xué)術(shù)交流中心南門(mén)大堂
會(huì )議、展覽時(shí)間：2025年4月25日
參會(huì )報名
婁龍：13718884242
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