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室溫鍵合新突破!SiC基鈮酸鋰薄膜助力SAW邁入高頻時(shí)代
來(lái)源:愛(ài)集微  瀏覽次數:787  發(fā)布時(shí)間:2025-08-15

在5G通信向毫米波頻段演進(jìn)及各領(lǐng)域雷達性能升級的背景下,高頻濾波器正面臨前所未有的技術(shù)挑戰。傳統聲表面波(SAW)器件憑借制造工藝簡(jiǎn)單,性能穩定,體積小巧,成本低廉等優(yōu)勢,長(cháng)期以來(lái)一直是射頻濾波領(lǐng)域的主流方案,然而受限于襯底材料的物理性能,使SAW僅應用在3GHz以下低頻段工作,而體聲波(BAW)技術(shù)雖能支持更高頻率,卻始終被高成本、高溫穩定性差等問(wèn)題所困擾。針對這一產(chǎn)業(yè)痛點(diǎn),青禾晶元通過(guò)自主創(chuàng )新的室溫鍵合技術(shù),成功開(kāi)發(fā)出碳化硅(SiC)基鈮酸鋰(LiNbO?)薄膜襯底,為SAW器件在高頻濾波領(lǐng)域帶來(lái)突破性進(jìn)展。

高頻性能的顯著(zhù)提升

基于SiC上LiNbO?薄膜在5GHz下諧振器測試,Qmax可達到710,K2可達到大于20%,諧振器器件的卓越性能為高頻濾波領(lǐng)域的應用提供了堅實(shí)基礎。

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SiC/LiNbO?與BAW濾波器參數對比

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SiC/LiNbO3在5G頻段應用性能曲線(xiàn)圖

異質(zhì)材料集成的關(guān)鍵技術(shù)突破

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超高真空常溫鍵合原理

青禾晶元通過(guò)自主開(kāi)發(fā)的表面活化鍵合(SAB)技術(shù),成功解決碳化硅(SiC)與鈮酸鋰(LiNbO?)異質(zhì)集成的核心難題,主要技術(shù)突破包括:

原子級界面控制技術(shù)

采用自研等離子體活化處理工藝,保證處理后鍵合界面粗糙度<0.5nm(原子級平整度),在常溫下實(shí)現共價(jià)鍵連接。

降低熱失配的精準調控技術(shù)

通過(guò)離子源均勻活化控制,實(shí)現常溫下高強度鍵合,避免SiC(4.0×10??/K)與LiNbO?(15×10??/K)的熱膨脹系數差異帶來(lái)熱失配問(wèn)題。

高強度的鍵合能,保證鍵合界面無(wú)分層開(kāi)裂現象。

高精度對準鍵合技術(shù)

晶圓級鍵合邊緣對準精度達±50 μm,mark圖形對準精度達±1um。

壓力均勻性控制在±3%以?xún)?,確保整個(gè)界面結合強度>10 MPa。

射頻性能優(yōu)化技術(shù)

復合襯底在5GHz頻段器件實(shí)測Qmax值可達700+。

機電耦合系數(K2)>20%a。

規?;a(chǎn)與產(chǎn)業(yè)化驗證

目前該技術(shù)已實(shí)現6英寸SiC/LiNbO?晶圓的規?;苽?,量產(chǎn)批次良率穩定在95%以上。針對5G N77 N78頻段已經(jīng)存在多種薄膜方案,隨著(zhù)SiC技術(shù)的逐步成熟,不再受制于成本限制,SiC上LiNbO?薄膜復合襯底材料未來(lái)有望在5G系統實(shí)現量產(chǎn)應用。

技術(shù)價(jià)值與產(chǎn)業(yè)影響

這項突破不僅解決了高頻濾波器的核心性能瓶頸,更展現出顯著(zhù)的經(jīng)濟效益:相較傳統BAW濾波器,生產(chǎn)成本降低30%以上,同時(shí)工作溫度范圍拓寬50%。隨著(zhù)5G-Advanced和衛星互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展,該技術(shù)有望在毫米波通信、智能駕駛雷達等領(lǐng)域創(chuàng )造更大價(jià)值。


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