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2025年3月7日，國際電工委員會(huì )（IEC）正式發(fā)布了IEC 62276:2025 《聲表面波器件用單晶晶片 規范與測量方法》（Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications-Specifications and measuring methods）。

中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì )作為IEC/TC49（頻率控制、選擇與探測用壓電、介電和靜電器件及相關(guān)材料技術(shù)委員會(huì )）的國內技術(shù)對口單位，充分發(fā)揮橋梁紐帶作用，積極與IEC/TC49秘書(shū)處保持密切溝通，并高效組織國內企業(yè)參與標準修訂工作。此次修訂項目由天通控股股份有限公司牽頭，國內項目團隊由中國電子科技集團公司第二十六研究所、福建晶安光電有限公司、中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì )、中電科技德清華瑩電子有限公司、北京石晶光電科技股份有限公司、成都泰美克晶體技術(shù)有限公司等行業(yè)內優(yōu)秀企業(yè)、組織及科研院所組成。在修訂過(guò)程中，項目團隊對聲表面波（SAW）器件用單晶晶片及透過(guò)率（晶片黑化程度）的技術(shù)要求和相應測量方法進(jìn)行討論及驗證試驗，提出了多項技術(shù)性修改內容，以適應當前智能終端時(shí)代對聲表面波器件用單晶晶片的需求，得到了國際同行的高度認可。

該標準是中國主導修訂的首個(gè)壓電頻率元器件國際標準，也是我國聲表面波（SAW）器件行業(yè)以企業(yè)為主體、市場(chǎng)為導向、產(chǎn)學(xué)研結合的技術(shù)創(chuàng )新體系建設的重要嘗試，實(shí)現了中國主導承擔本領(lǐng)域國際標準項目“零”的突破，對建立我國在該領(lǐng)域的標準話(huà)語(yǔ)權及提升產(chǎn)業(yè)國際競爭力具有重要意義。