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    近日，半導體測試探針卡制造領(lǐng)導廠(chǎng)商—思達科技，推出應用在WAT可靠性測試的3D/2.5D MEMS微懸臂探針卡。思達處女座Virgo-Prima系列探針卡是為納米技術(shù)節點(diǎn)（nanometer technology node process）程序而設計實(shí)現的，它的測試表現，超越了行業(yè)測試市場(chǎng)上任何已知的測試解決方案。

思達科技3D/2.5D MEMS微懸臂WAT探針卡

    思達科技多年來(lái)致力在MEMS探針的技術(shù)研發(fā)，持續推出先進(jìn)的測試探針卡，以滿(mǎn)足各種行業(yè)的產(chǎn)業(yè)測試需求，Virgo Prima系列是專(zhuān)為微型化程序IC而設計，用在產(chǎn)線(xiàn)WAT（晶圓驗收）/ 電性測試（E-test）、在線(xiàn)（In-Line）/ 程序（process）的參數/電性測試（E-test），和包括HCI、TDDB、EM等等的可靠性測試。

    Virgo Prima 3D/2.5D MEMS探針擁有優(yōu)異的物理特性，可提高測試效率。低寄生電容和低漏電流，且在-40至200攝氏度的寬工作溫度范圍內，有更高的穩定性，能夠提高效率且得到可靠的量測結果；擦痕小、微粒少、對準表現佳、探針標記更好等等的優(yōu)點(diǎn)，也能夠降低行業(yè)客戶(hù)的測試維修成本。

    思達科技執行長(cháng)暨技術(shù)長(cháng)劉俊良博士表示，"先進(jìn)的節點(diǎn)技術(shù)，增加了晶圓驗收測試方面，運用具備成本效益解決方案的需求。思達處女座Virgo-Prima MEMS探針卡，是針對快速的應用開(kāi)展而設計，集成關(guān)鍵的探針測試能力，為我們的客戶(hù)提供更大的價(jià)值和測試表現。"