高精度檢波器在石油和天然氣勘探以及地震監測等陸地應用中發(fā)揮著(zhù)至關(guān)重要的作用。光機械精密測量的發(fā)展為檢波器提供了一種新的設計方法,與傳統的檢波器相比,它具有更高的靈敏度和更小的尺寸。
近日,華中科技大學(xué)劉驊鋒教授團隊提出了一種基于平凹型(plano-concave)法布里-珀羅(F-P)微腔的光機械MEMS檢波器,其靈敏度高達146 V/g。該F-P微腔包括一個(gè)傳感元件上的可移動(dòng)反射鏡和一個(gè)固定半球形微鏡,由絕緣體上硅(SOI)和單晶硅晶圓制造而成。實(shí)驗結果表明,該光機械MEMS檢波器在100~200 Hz頻率范圍內具有2.5?ng/√Hz的低本底噪聲(位移本底噪聲為6.2?fm/√Hz)、500?Hz(-3 dB)的寬帶寬、±4?mg的測量范圍。為了降低來(lái)自激光源和溫度、空氣波動(dòng)等環(huán)境因素產(chǎn)生的共模噪聲,研究人員采用了平衡檢測方法。該方法顯著(zhù)降低了本底噪聲,幾乎達到了熱噪聲極限(2.5?ng/√Hz)。此外,該研究還展示了一種直徑為40 mm的緊湊型封裝的光機械MEMS檢波器,其高性能和魯棒特性在石油和天然氣勘探等領(lǐng)域具有巨大的應用潛力。上述研究成果以“An optomechanical MEMS geophone with a 2.5?ng/√Hz noise floor for oil/gas exploration”為題發(fā)表于Microsystems & Nanoengineering期刊。
本項研究所開(kāi)發(fā)的光機械MEMS檢波器直徑為40 mm,高度為45 mm,重量為75 g,由三個(gè)主要部件構成:MEMS傳感芯片、光纖準直器和對準調節器。對準調節器確保高斯光從光纖以垂直入射的方式精確準直進(jìn)入微腔(圖1a)。平凹F-P微腔的設計特點(diǎn)是傳感元件上有一個(gè)可移動(dòng)的反射鏡和一個(gè)固定的半球形微鏡(圖1b)。傳感元件包括一個(gè)校準質(zhì)量塊和懸掛梁,并且校準質(zhì)量塊能夠進(jìn)行平面外運動(dòng)。
圖1 光機械MEMS檢波器概念示意圖
該光機械MEMS檢波器的原理分為兩個(gè)部分:一是通過(guò)傳感元件將加速度轉化為位移,二是通過(guò)F-P微腔進(jìn)行光干涉位移測量。傳感元件被概念化為一個(gè)理想的二階響應系統,其特征由其基頻???決定(如圖1c所示)。光機械MEMS檢波器工作時(shí),入射光穿過(guò)半球形微鏡,被傳感元件反射。激光波長(cháng)λ被鎖定在諧振波長(cháng)(~1550 nm)的邊帶上(圖1d)。
考慮到硅材料對紅外光的透明特性,研究人員利用SOI和單晶硅晶圓通過(guò)體硅工藝制造平凹F-P微腔。MEMS制造工藝和制得的光機械結構如圖2所示。
圖2 光機械檢波器的MEMS制造工藝
光學(xué)讀出系統采用平衡檢測法,可有效抑制光噪聲(圖3a)。1550 nm激光器發(fā)出的光通過(guò)1?×?2光纖耦合器被分為兩路:傳感光路和參考光路。為了確保兩光路的強度一致,采用了兩個(gè)可變光衰減器。傳感光穿過(guò)光纖環(huán)形器(CIR)到達F-P微腔。然后,來(lái)自微腔的干涉光返回CIR,最終到達帶有5 Hz高通濾波器的平衡光電探測器(Thorlabs:PDB435C-AC)。同時(shí),參考光直接從PDB收集。此外,MEMS芯片安裝在PZT激振器上,使傳感元件在動(dòng)態(tài)測試期間能夠實(shí)現納米級位移。為了評估所提出的光機械MEMS檢波器的性能,研究人員進(jìn)行了校準實(shí)驗、動(dòng)態(tài)實(shí)驗和噪聲性能實(shí)驗,實(shí)驗結果如圖3、圖4和圖5所示。
圖3 光機械MEMS檢波器的校準實(shí)驗
圖4 光機械MEMS檢波器的動(dòng)態(tài)實(shí)驗
圖5 光機械MEMS檢波器的噪聲性能實(shí)驗
綜上所述,這項研究提出了一種基于平凹F-P微腔的緊湊型封裝的光機械MEMS檢波器,其本底噪聲低至2.5?ng/√Hz,帶寬為500?Hz,測量范圍為±4?mg。等效位移噪聲達到6.2?fm/√Hz,證實(shí)了F-P腔干涉術(shù)在精密測量中的潛力。實(shí)驗結果表明,通過(guò)使用平衡檢測方法,可將源自激光源和溫度/空氣波動(dòng)的共模噪聲從15?ng/√Hz抑制到2.5?ng/√Hz的機械熱噪聲極限。因此,所提出的光機械MEMS檢波器具有高性能和魯棒性,適合應用于石油和天然氣勘探。